Seminar

Oki Gunawan (IBM T.J. Watson Research Center/Research Staff Member)
admin Jun 05, 2023 12:24:04
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Date 2023-06-05 
Time 16:30 
Title Fundamental Advances in Semiconductor Metrology with Carrier-Resolved Photo Hall effect 
■ 일시 : 2023년 06월 05일(월), 오후04시30분~
■ 장소 : W1-1(신소재공학과_응용공학동), 주흘회의실(2430호)
■ 연사 : Oki Gunawan (IBM T.J. Watson Research Center/Research Staff Member)
■ 주제 : Fundamental Advances in Semiconductor Metrology with Carrier-Resolved Photo Hall effect
■ 주관 : 신소재공학과 신병하 교수 
 
■ Abstract :
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첨부 : 연사 이력서 1부.

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